广立微：发布新一代通用型高性能半导体参数测试系统

近日，杭州广立微电子股份有限公司（简称：“广立微”）推出了新一代通用型高性能半导体测试系统T4000。

T4000通用型高性能半导体参数测试系统可覆盖LOGIC，CIS, DRAM, SRAM, FLASH, BCD等所有产品的测试需求，支持第三代化合物半导体（SiC/GaN）的参数测试。

该系统拥有丰富的WAT、WLR测试算法库，适配各类主流WAT探针卡，支持国际上各主要型号的探针台，能够高效完成所有常规WAT参数、常规WLR 参数以及addressable等先进测试芯片的测试，可广泛应用于WAT, WLR及SPICE等领域。

相比市场上同类设备，T4000系列测试每片晶圆所需的时间大幅度缩短，提升幅度达20%至200%，具有很高的性价比，更适合对成本较为敏感的8英寸及以下产线。

（来自：广立微）